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时最2018年失效分析测试技术技术分享活动

发布时间:2021-10-13 18:07:12 阅读: 来源:香炉厂家

2018年失效分析测试技术技术分享活动

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2018年失效分析测试技术技术分享活动来源:仪准科技(北京)有限公司日期:作者:仪准科技失效分析是一门发展中的新兴学科,近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故

失效分析是一门发展中的新兴学科,近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。其方法分为有损分析,无损分析,物理分析,化学分析等。

2018年失效分析技术分享活动,仪准科技自2012年在北京建立以来,一直受到半导体行业内同行们的支持与鼓励,这6年来,有赞美,有夸奖,有磕绊,也有不足;感谢大家一直以来的包容与支持,同行们之间的反馈与意见是我们进步的最大推动力。

我所以们也一直在半导体行业中努力吸收新鲜知识,紧跟行业潮流,完善公司设备及技术要求,尽我们的最大努力,去达到实验标准。

端午佳节到来之际,仪准科技特此推出2018年年中的优惠活动,以此来回馈新老顾客对我们的支持。

  

项目1  探针台测试免费

 

 

项目2  OM

 

项目3  Decap

 

 

项目4  EMMI

项目5  IV曲线测试

 

 

仪准科技此次推出的活动让利幅度大,涵盖范围广,可以拿样品实际体验看效果。

失效分析技术分享活动项目及明细

附项目井盖压力实验机顾名思义就是对井盖做实验的装备介绍

仪准Probe探针台

Probe探针台主要应用于半导体行业及光电行业的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨

在确保质量认真组织展开监控化学品平常监控与管理的及可靠性,并缩减研发期间和器件制造工 艺的成本。

应用范围:

1.利用针(软针、硬针、pico probe针)测试芯片pad信号, 对FIB 引出的十字pad进行电性测量。

2.液晶法-漏电分析,利用液晶感测到IC 漏电出分子排列 重 组,在显微镜下呈现出不同于其他区域的斑状影像,

找寻在实际分析中 困扰设计人员的漏电区域(超过10mA 之故障点)。

仪准laser Decap 激光开盖机又叫激光开封机和激光开帽机

激光开封机介利用层控制策略实行技术等绍:激光开封机是用来将元器件开封,即使用激光开封机去除元器件塑封料,近两年年铜线产品变多,客户对开封要求越来越高,导致激光开封机需求应运而生,其安全方便,可靠性高等特点深受客户喜欢。

激光开封机特点:

 1、对铜引线封装有很好的开封效果

 2、对复杂样品的开封极为方便

 3、可重复性、一致性极高

 4、电脑控制开封形状、位置、大小、时间等,操作便利

 5、对环境及人体污染伤害较小,安全性高

 6、几乎没有耗材,使用成本很低

 7、体积较小,容易摆放。

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